逆变器长寿命周期设计

逆变器长寿命周期设计

功率解耦减少电容依赖

为攻克微型逆变器因电解电容导致的短寿命难题,有研究提出在微型逆变器交流侧实现功率解耦方案。通过该方案,可从根本上去除影响微型逆变器寿命的电解电容,采用长寿命薄膜电容替代。结合拓扑结构进行功率解耦,大幅减少了储能电容量需求,延长了逆变器使用寿命,提升了产品可靠性,为微型逆变器在复杂环境下长期稳定运行提供了有力保障。

器件可靠性提升

在逆变器设计中,对功率半导体器件、磁性元器件等关键部件的可靠性研究不断深入。例如,首航新能通过高性能数字信号处理器采集功率半导体器件、磁性元器件等装置的电量信息,电压与电流采集精度分别达到 100mV 和 10mA ,通过板载 MCU 完成装置内部关键器件的实时监控、保护以及故障发生前后关键信息的记录和故障特征提取,时间精度达到 100 微秒级。结合关键器件的失效模式进行分析,关键器件的典型诊断覆盖率可达 90% 以上,极大地提高了逆变器整体可靠性与稳定性,间接延长了逆变器使用寿命。

鲁ICP备2022008433号-1